[大理石平臺(tái)精度]檢驗(yàn)大理石平臺(tái)精度等級(jí)的條件！

一、檢驗(yàn)大理石平臺(tái)精度等級(jí)的條件

　　檢驗(yàn)大理石平臺(tái)精度等級(jí)是否合格需要誤差1μm的檢驗(yàn)儀器，需要恒溫條件，需要安裝水平等，這三點(diǎn)是 重要的。按照生產(chǎn)廠家的介紹，檢驗(yàn)一套大理石平臺(tái)精度是否合格需要的技術(shù)還有很多細(xì)節(jié)，我們就把這個(gè)問(wèn)題在這里簡(jiǎn)單說(shuō)一下：

　　1、檢驗(yàn)儀器是檢測(cè)大理石平臺(tái)精度準(zhǔn)確性的關(guān)鍵指標(biāo)，根據(jù)要求電子水平儀每年都需要檢測(cè)，需要根據(jù)校檢報(bào)告進(jìn)行使用，有誤差需要維修調(diào)整。2、恒溫室是保持精度穩(wěn)定的關(guān)鍵一環(huán)，如果恒溫室溫度誤差很大就會(huì)出現(xiàn)精度無(wú)準(zhǔn)確的情況，對(duì)于大理石平臺(tái)精度等級(jí)的驗(yàn)收才成數(shù)據(jù)上的差異。3、大理石平臺(tái)的安裝對(duì)精度也有微小的影響，大理石平臺(tái)在達(dá)到客戶手中時(shí)需要進(jìn)行安裝，安裝該過(guò)程中需要調(diào)整精度水平，只有水平的大理石平臺(tái)在進(jìn)行第三方效驗(yàn)才會(huì)準(zhǔn)確！

　　二、大理石平臺(tái)拋光的意義與介紹

　　大理石拋光的現(xiàn)實(shí)意義：1、大理石在經(jīng)過(guò)拋光磨塊拋光后，光度可達(dá)90-100度，還原了石材出廠時(shí)的光度，實(shí)現(xiàn)了石材價(jià)值再現(xiàn)。晶面處理護(hù)理時(shí)，可以 省時(shí)、省力、節(jié)約成本， 具耐磨性能。大理石打蠟拋光后，其表面光度下降，模糊不清晰，降低了石材的功能價(jià)值，不具觀賞性。2、由以上本質(zhì)與表象區(qū)別可以發(fā)現(xiàn)：大理石打蠟拋光 被淘汰，淡出市場(chǎng)。由于大理石打磨拋光晶面護(hù)理的工藝原理與方法 、能使大理石 具觀賞性和延長(zhǎng)其使用壽命。

　　大理石平臺(tái)拋光與大理石平臺(tái)打蠟的區(qū)別：

　　1、表象區(qū)別：（1）大理石磨塊拋光是石材理護(hù)理晶面處理的前奏，石材護(hù)理拋光后光度高、清晰度高，耐磨、耐踩，不易刮花，是石材使用功能的真實(shí)體現(xiàn)和價(jià)值延伸。（2）打蠟拋光后的光度低，光度不清晰、而且很模糊，不耐磨、不耐水，易刮花、氧化變黃使石材本質(zhì)形象降低。

　　2、本質(zhì)區(qū)別：（1）大理石磨塊拋光是石材晶面處理的前奏或石材加工中 的一道工藝流程。其主要原理是利用由無(wú)機(jī)酸、金屬氧化物等物質(zhì)合成的壓制磨塊配合機(jī)械磨盤的壓力、高速磨削力、摩擦熱能，水的作用在比較光滑的大理石表面進(jìn)行物理、化學(xué)化合作用，從而形成新的光亮晶體層。此晶體層具有超亮的、清晰的光度，光度可達(dá)90-100度。此晶體層是石材表層（1-2mm厚）的改性化合晶體層。

（2）大理石護(hù)理晶面處理前的磨塊拋光工藝是石材表層與化學(xué)物的物理和化合作用過(guò)程。石材表層與底層完全化合成一個(gè)整體，不存在脫離層。

 

（3）大理石打蠟拋光上面的蠟層是附著于石材表面的，一層樹脂膜，與石材本身不存在化合反應(yīng)。此蠟?zāi)涌捎玫镀p輕一鏟，可以將蠟?zāi)は麟x于石材表面。

　　三、大理石平臺(tái)的用途

　　1、大理石平臺(tái)可用于測(cè)量器件的高度，因?yàn)樵摲N量具是水平的，正如我們平時(shí)測(cè)量的時(shí)候要先找到基準(zhǔn)面，方能準(zhǔn)備測(cè)出建筑物的高度一樣。這種平板同樣可以作為測(cè)量的基準(zhǔn)面，使用方法就是要將需要測(cè)量的物體加上它的量表座一起放在這種平板上，接著將它與大理石平臺(tái)進(jìn)行比較，然后就能測(cè)出物件的高度了。

　　2、除了測(cè)量高度，大理石平臺(tái)同時(shí)可以測(cè)量一樣物體是否與另一物體能夠保持平行。它可以作為一個(gè)基準(zhǔn)面來(lái)測(cè)量物體的平行度。使用方法如下，首先，要先固定物體的量表座，然后同理也是將需要測(cè)量平行度的物體放在這種平板身上，就可以開始進(jìn)行檢查了。

　　3、除了高度和平行度，大理石平臺(tái)還可以用來(lái)幫助測(cè)量角度，使用方法與上述二者類似。

　　4、還有就是如果器件中需要?jiǎng)澮恍┦?nbsp;  的線，這時(shí)候就可以借助劃線的平板了。

　　5、大理石平臺(tái)也可以用來(lái)繪制刻度線，使測(cè)量   加簡(jiǎn)易方便。